SOME PROPERTIES OF SILICON ON SAPPHIRE FILMS DETERMINED BY LOW FREQUENCY NOISE MEASUREMENTS.:IEEE SOS WORKSHOP. VAIL, CO
データの提供元
日本原子力研究開発機構図書館蔵書
日本原子力研究開発機構の中央図書館所蔵資料を対象とした検索データベース。同図書館が所蔵する図書、レポート、会議資料、雑誌、Docketが検索できる。
最終更新日
2022/07/25
日本原子力研究開発機構の中央図書館所蔵資料を対象とした検索データベース。同図書館が所蔵する図書、レポート、会議資料、雑誌、Docketが検索できる。
2022/07/25